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光學(xué)顆粒粒度分析儀

來源:科研與設(shè)備處  發(fā)布日期:2010-11-26 

    號(hào):PCS 2010

產(chǎn)    地:德國

設(shè)備單價(jià):40.47(萬元)

技術(shù)指標(biāo):測量粒子個(gè)數(shù)濃度最高為105P/cm3,;粒徑測量范圍為0.6~40 µm,;采樣流量5L/min;可在正壓和負(fù)壓下工作,,最高承受正壓1MPa,,測量介質(zhì)溫度范圍為-90~120,具有防暴保護(hù),。

主要功能:可在線測量管道內(nèi)氣溶膠粒度分布,同時(shí)測量粒子的數(shù)量和大�,�,;用來評(píng)價(jià)過濾介質(zhì)和分離設(shè)備的分離性能,可以檢測到分離設(shè)備的分級(jí)效率,,進(jìn)出口粒徑分布和濃度,,其中濃度包括質(zhì)量濃度,體積濃度,,粒子個(gè)數(shù)濃度等,。測量數(shù)據(jù)可用圖表形式表示出來也以出電子表格形式輸出。

所屬學(xué)科:熱能工程

所屬院系:機(jī)械與儲(chǔ)運(yùn)工程學(xué)院

設(shè)備負(fù)責(zé)人:姬忠禮

收費(fèi)標(biāo)準(zhǔn):1000/小時(shí)(校內(nèi)),、校外2000/小時(shí)(校外)

聯(lián)系電話:010-89734336